應用
高含量組分測定-示差法
當待測組分含量較高時，測得的吸光度值常常偏離朗伯-比爾定律。即使不發(fā)生偏離，也因為通常采用純溶劑作參比溶液（普通光度法），使測得的吸光度太高，超出適宜的讀數(shù)范圍而引入較大的誤差。采用示差法就能克服這一缺點。但應用示差法時，要求儀器光源有足夠的發(fā)射強度或能增大光電流放大倍數(shù)，以便能調節(jié)參比溶液透光度為100%。
這就要求儀器單色器質量高，電光學系統(tǒng)穩(wěn)定性好。
多組分分析
應用紫外可見分光光度法，常?？赡茉谕辉嚇尤芤褐胁贿M行分離而測定一個以上組分。假定溶液中同時存在兩種組分x和y，其吸收光譜一般有重疊和不重疊兩種情況。不重疊的測定組分相互不產生干擾。若吸收光譜重疊，在波長為λ1和λ2時分別測定吸光度A1和A2，由吸光度值的加和性得到聯(lián)立方程，通過解聯(lián)立方程求得各濃度值。
定量方法
標準曲線法
即工作曲線法，適用于大量重復的樣品分析，是工廠控制分析中應用最多的方法。
根據光吸收定律，對于一種有色化合物，ε是一個定值，若把光程L也固定，那么吸光度A就和溶液的濃度c成正比，也就是說吸光度A和濃度c呈線性關系。配制一系列適當濃度的標準溶液，顯色后分別測定其吸光度，把吸光度A對濃度c作圖，即得工作曲線。
直接比較法
直接比較法其實質也是工作曲線法，是一種簡化的工作曲線法。配一個已知被測組分濃度為cs的標樣，測其吸光度為As，在同樣條件下再測未知樣品的吸光度為Ax，通過計算可求出未知樣品的濃度cx。
As=εcsL
Ax=εcxL
由于溶液性質相同，比色皿厚度一樣，所以As/Ax=cs/cx
式中：
cs-已知被測組分的濃度，mol/L；
cx-未知樣品的濃度，mol/L；
As-已知被測組分的吸光度；
Ax-未知樣品的吸光度。
直接比較法簡化了繪制工作曲線的步驟，適用于個別樣品的測定。
操作時應注意配制標樣的濃度要接近被測樣品的濃度，這樣能減少測量誤差。
標準加入法
標準加入法是工作曲線的一種特殊應用。選擇適當?shù)娘@色條件，先測定濃度為cx的未知樣品吸光度為Ax，再向未知樣品中加入一定量的標樣，配置成濃度為cx+Δc1、cx+Δc2……一系列樣品，分別顯色后再測定吸光度為A1、A2……最后在坐標紙上繪圖，以吸光度A為縱坐標，以濃度c為橫坐標，分別畫出Δc1、Δc2所對應的A1、A2等各點，連成直線后延長，與橫軸的交點cx也就是未知樣品的濃度cs。
應用標準加入法時要注意，加入的標樣濃度要適當，使畫出的曲線保持適當角度，濃度過大或過小都會帶來測量誤差。這種方法操作比較麻煩，不適于作系列樣品分析，但它適用于組成比較復雜，干擾因素較多而又不太清楚的樣品，因為它能消除背景的影響。
紫外可見分光光度計使用中的注意點
保護光源
光源燈有一定的壽命，儀器不工作時不要開燈，若工作間歇時間短，可不關燈。
一旦停機，則要待燈冷卻后再重新啟動，并預熱15min。
燈泡發(fā)黑或亮度明顯減弱或不穩(wěn)定時，就及時更換。
經經紫外光照射后形成結痕可用無水乙醇去除。
保證合適的工作環(huán)境
溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素。
不適宜的溫度和濕度可引起機械部件的銹蝕，使金屬鏡面的光潔度下降，引起儀器機械部分的誤差或性能下降。造成光柵、反射鏡、聚焦鏡等光學部件的鋁膜銹蝕，產生光能不足、雜散光、噪聲等。甚至使儀器停止工作，從而影響儀器壽命。維護保養(yǎng)時應定期加以校正溫度和濕度。實驗室，特別是地處南方地區(qū)的實驗室，應具備四季恒溫的儀器室，配備恒溫設備。環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體也可以影響機械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關、按鍵、光電耦合器的可靠性，也是造成光學部件鋁膜銹蝕的原因之一。因此必須定期清潔，保障環(huán)境和儀器內衛(wèi)生條件，防塵。
定期除塵、調校
儀器使用一定時間后，內部會積累一定量的塵埃，最好由維修工程師或在工程師指導下定期開啟儀器外罩對內部進行除塵工作，同時將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對光學盒的密封窗口進行清潔，必要時對光路進行校準，對機械部分進行清潔和必要的潤滑，最后恢復原狀，再進行一些必要的檢測、調校和記錄。
正確使用比色皿
拿比色皿時，手指只能捏住比色皿的毛玻璃面，不要碰比色皿的透光面，以免沾污。清洗比色皿時，先用水沖洗，再用蒸餾水洗凈。若被比色皿被有機物沾污，可用鹽酸-乙醇混合洗滌液（1:2）浸泡片刻，再用水沖洗。每次做完實驗應立即洗凈比色皿。比色皿外壁的水用擦鏡紙或細軟的吸水紙吸干，以保護透光面。測定有色溶液吸光度時，一定要用有色溶液洗比色皿內壁幾次，以免改變有色溶液的濃度。在測定一系列溶液的吸光度時，通常都按由稀到濃的順序測定，以減少測量誤差。
若分光光度計噪音比較大，有可能是光源燈泡使用時間超過壽命期，可更換光源燈泡。
若自檢時提示波長自檢出錯，有可能是自檢過程中打開過儀器樣品室的蓋子，可關上儀器樣品室蓋子，重新自檢。
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